锂电池防爆片刻痕余量检测仪
垂直重复精度1um,最低细分分辨率500纳米,充分满足在狭小空间缝隙内对被测物Z轴方向上的高精度检测。
检测原理为我司发明专利技术:“一种显微条件下物体Z轴方向的无接触高精度测量方法及其测量装置”授权公告号 CN 114199140 B。
对焦方式采用高精度微调模组,末端高分辨率微调对焦。
零点一次校准后可直接对焦检测并生成监测数据,快捷方便。
采用接触式纳米步位移传感器保障测量精度。
接触式传感器采用直连数显屏设计,可直接观测度数,优于日系产品。
双光学系统对中为我司自行设计制造结构,稳定可靠,在无振环境中可保证长时间对中专用靶心。
适用范围:该设备适用于各种类型的防爆盖刻线余量的高精度检测。其垂直重复精度为1微米,最低步分辨率为500nm,能够充分满足在狭小空间缝隙内对被测物Z轴方向上的高精度检测需求。
通过使用此产品,生产厂家可以充分掌握残留余量并与耐压数据相结合,从而在有效地保证产品质量的同时降低损耗,间接保证成品的安全可靠。
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